AI-6000B型自動(dòng)抗干擾精密介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x

AI-6000B型自動(dòng)抗干擾精密介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x

一、主要功能

  具有正/反接線(xiàn)，內(nèi)/外高壓4種工作模式

  一體化結(jié)構(gòu)，大屏幕液晶顯示。體積小，重量輕，便于攜帶。

  可做各種常規(guī)介損試驗(yàn)，不需外接任何設(shè)備。

  啟動(dòng)后自動(dòng)緩速升壓--測(cè)量--降壓。

  具有過(guò)流、過(guò)壓和接地保護(hù)，安全可靠。

  測(cè)試數(shù)據(jù)內(nèi)容豐富，自動(dòng)分辨電容、電感、電阻型試品

  自帶微型打印機(jī)可打印輸出。

AI-6000B型自動(dòng)抗干擾精密介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x

二、主要技術(shù)指標(biāo)

          準(zhǔn)確度：              CX：  ±（讀數(shù)×1%+1pF）

                                         tgδ：  ±（讀數(shù)×1%+0.00040）

          抗干擾指標(biāo)：     在200%干擾（即I干擾 / I試品≤2）下仍能達(dá)到上述準(zhǔn)確度

          電容量范圍：     內(nèi)置高壓3pF~40000pF/10kV      60pF~1μF/0.5kV

                                        分辨率：zui高0.001pF，4位有效數(shù)字

          tgδ范圍：          不限，分辨率0.001%，電容、電感、電阻三種試品自動(dòng)識(shí)別。

          試驗(yàn)電流范圍： 10μA~1A

          內(nèi)施高壓：        設(shè)定范圍：0.5~10kV                 

                                        zui大輸出電流：140mA

                                       升降壓方式：連續(xù)平滑調(diào)節(jié)

          精度：                ±(1.5%×讀數(shù)+10V)             

                                      分辨率：1V

          試驗(yàn)頻率：       45、50、55、60、65Hz單頻

                                       45/55Hz、55/65Hz自動(dòng)雙變頻

                                       精度：±0.01Hz

           測(cè)量時(shí)間：      約30秒（與測(cè)量方式有關(guān)）

          輸入電源：       180V~270VAC，50Hz/60Hz±1%（市電或發(fā)電機(jī)供電）

          打印機(jī)：           M150型微型打印機(jī)

          工作環(huán)境：       溫度范圍：-10℃~50℃

                                      相對(duì)濕度<90%

          外形尺寸           38cmx31cmx30cm

          重      量             22kg

AI-6000B型自動(dòng)抗干擾精密介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x

三、適用范圍

        適合110KV以下變電站的供、發(fā)電單位，如：縣級(jí)電業(yè)局，電力工程公司，大型油田、礦山、鋼廠、鋁廠、鐵路單位，小型水力或火力發(fā)電廠。沒(méi)有CVT或CVT帶抽頭的變電站。

        也可用于大、專(zhuān)院校或科研機(jī)構(gòu)高電壓技術(shù)實(shí)驗(yàn)室，進(jìn)行介質(zhì)損耗測(cè)量的教學(xué)、科研工作。可測(cè)量：

         Cx 電容量

         tgδ 介質(zhì)損耗角正切值

         U試驗(yàn)電壓

         I 試品電流

         Φ試品電流超前試驗(yàn)電壓的角度

         P試品損耗功率

         F頻率

         T 溫度